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EM系列磁場探頭使用說明

EM系列 是一款主要用于查找干擾源,判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度;檢測模塊附近的磁場環境。為了降低干擾,尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的,通過近場探頭測量可以很方便地實現定位功能。



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